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| entdecken Sie die neuesten Innovationen im Bereich Display-Technologien auf der wichtigsten globalen Veranstaltung der Branche: Auch in diesem Jahr findet die SID Display Week 2024 vom 12.-17. Mai in San Jose/CA statt. Über sechs Tage gibt es ein umfassendes Programm bestehend aus Kursen, Workshops, Seminaren und Foren. Parallel dazu findet vom 14.-16. Mai eine dreitägige Ausstellung mit den führenden Unternehmen der Display- und Informationstechnologie statt.
Instrument Systems wird mit einem prominenten Stand #1115 am German Pavillon vertreten sein und die komplette LumiTop-Familie der spektral-korrigierten Farbmesskameras sowie unser Portfolio zur optischen Charakterisierung von AR/VR-Geräten, µLEDs und von Automotive-Displays vorstellen. Erleben Sie unsere Experten in unserem “Short Course Display-Metrology” am 12. Mai und beim Symposiumsvortrag am 16. Mai. Weitere Details zu allen Themen finden Sie weiter unten.
Die Anmeldung zur Display Week 2024 ist bereits möglich. Registrieren Sie sich jetzt mit unserem kostenlosen Gastcode: AatcBHN. Das kostenlose Ticket gilt für die Ausstellungshalle sowie die Keynotes und das Women in Tech Panel.
https://www.displayweek.org/2024/Attendee/Registration
Zur Terminvereinbarung an unserem Stand wenden Sie sich bitte direkt an Justin Spott unter: spott@instrumentsystems.com oder https://calendly.com/justin-spott/30min
Ihr Instrument Systems Team
sales@instrumentsystems.com
Tel.: +49-89-454943-0
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| | | \\ Highlight zur SID Display Week 2024 |
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| SID/ICDM Display Metrology Short Course | | Die Bedeutung von Displays zeigt sich in ihrer Allgegenwärtigkeit in vielen Technologien und Branchen sowie in ihrer Ausdehnung auf ganze Geräteoberflächen und Sichtfelder. Die Display-Messtechnik bietet anhand von Daten ein objektives Verständnis für die Qualität und Leistung eines Displays und stellt wichtige Tools zur Entwicklung von Display-Innovationen und zum Schutz von Fertigungsinvestitionen bereit.
Unser Beitrag „Fundamentals of Display-Metrology“ vermittelt ein grundlegendes Verständnis der Display-Messtechnik und stellt Messgeräte und -techniken von führenden Unternehmen vor. Zu unseren Themen gehören die Wissenschaft von Licht und Farbe, Maßeinheiten und Messstandards sowie Messsysteme von Punktspektralradiometern bis hin zu fortschrittlichen spektral-korrigierten 2D-Bildgebungssystemen. Wir stellen Testmethoden vor, um Anzeige-Leistungsparameter von der (Farb-) Gleichmäßigkeit bis hin zu Mura- oder Pixel-Defekten zu untersuchen, und präsentieren modernste Prüfsysteme, die für gebogene Displays, microLED-Panels oder auch komplette AR/VR-Geräte optische Tests erstellen können.
Der Kursbeitrag „Fundamentals of Display-Metrology“ findet am Sonntag, den 12. Mai 2024, 10 – 12 Uhr Ortszeit in Raum 220B statt, als Teil des „SID/ICDM 2024 Display Metrology Short Course“. Die Teilnahme ist kostenpflichtig.
Präsentiert von Dr. Ferdinand Deger (Instrument Systems) und Jens Jensen (Radiant Vision Systems)
Registrieren Sie sich jetzt!
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| | | \\ Unsere Themen zur SID Display Week 2024 |
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| | LumiTop 5300: Spektrometer-korrigierte Farb- und Homogenitätstests für AR/VR | |
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| Auf der SID zeigen wir Live-Messungen mit unserer neuen LumiTop 5300 AR/VR. Die 2D-Leuchtdichte- und Farbmesskamera verfügt über einen hochauflösenden Sensor und ein gerades Objektiv (alternativ sind Modelle mit gefaltetem bzw. periskopischem Objektiv erhältlich). Es wurde speziell für die Charakterisierung von Near-Eye-Displays (NED) und AR/VR-Headsets entlang der Produktionslinie und Endprüfung entwickelt. Verschiedene externe Pupillengrößen und Fokusabstände sind möglich. Das 2D-Bildgebungssystem verfügt über ein großes Sichtfeld für die One-Shot-Erfassung des virtuellen Bildes inklusive Verzerrungs- und Schärfeuntersuchungen (MTF usw.).
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| Außerdem zeigen wir Ihnen Leucht- und Strahldichtemessungen mit unserer neuen AR/VR Einkoppeloptik TOP 300 AR/VR. Diese besitzt ein dem menschlichen Auge (äußere Augenpupille) nachempfundenes optisches System und kann über eine Faserverbindung an ein Spektralradiometer der CAS-Serie angeschlossen werden. Die TOP 300 wurde speziell für einfache optische Tests entlang der Produktionslinie von AR/VR-Modulen entwickelt.
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| | LumiTop X150: Schnellste spektral-korrigierte 2D-Displayprüfung für µ(O)LED und Wafer | |
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| Die LumiTop X150 ist unsere Lösung für die pixel-genaue Analyse und Korrektur von hochauflösenden Displays, wie z.B. Mikrodisplays für AR/VR-Anwendungen, Smart Watches und Smartphones, TVs, Back Light Units oder µLED-Wafern. Wir zeigen live, wie Messungen mit unserer LumiTop X150 Kamera die Auswertung einzelner Pixel für ein optimales visuelles Erlebnis auf den fertigen Displays ermöglichen, sowie eine schnelle Erkennung jedes µLED-Defekts in Bezug auf Leuchtdichte und Farbe.
Damit ergeben sich für µLED-Wafer-Hersteller große Vorteile:
- Defekte Pixel können während des Wafer-Produktionsprozesses repariert werden
- Ausschuss in der Endkontrolle wird minimiert, die Produktionseffizienz wird verbessert
- Sicherstellung zuverlässiger Produktionsprozesse als Zulieferer der High-end Displayhersteller
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| | LumiTop X20 / X30: Perfekte Bildqualität auch bei geringer Leuchtdichte! | |
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| Instrument Systems hat speziell für Display-Produktionstests unter extremen Leuchtdichtebedingungen die neuen Farbmesskameras LumiTop X20 und LumiTop X30 entwickelt. Beide LumiTop-Kameras zeichnen sich durch eine hohe Kameraauflösung (20 MP bzw. 31 MP), motorisierte Objektivlinsen (Fokus und Iris) sowie einen umschaltbaren Dichtefilter aus. Mit ihnen sind Displayhersteller in der Lage, genaue (Farb-) Tests bei sehr hohen Leuchtdichten im Bereich von mehreren Mcd/m² sowie niedrigen Leuchtdichten im Bereich von 0,001 cd/m² bis 0,1 cd/m² durchzuführen. Damit können sie die Adaption des menschlichen Auges auf dunkle und helle Lichtverhältnisse berücksichtigen.
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| | DMS-Serie: Goniometrische Charakterisierung virtueller Bilder | |
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| Instrument Systems bietet nicht nur kamerabasierte AR/VR/MR-Testlösungen zur vollständigen optischen Charakterisierung von Anzeigemodulen, Optiken und fertig montierten Headsets. So ermöglichen unsere etablierten DMS-Goniophotometer äußerst genaue winkel- und zeitaufgelöste Messungen des zu testenden Geräts (DUT) auch in AR/VR/MR Anwendungen.
Das neueste Goniometer DMS 904 besitzt eine zusätzliche motorisierte X-Achse für gebogene Displays und eine extra lange Thermokammer mit Temperiersystem für besonders große Displays bis zu 1,5 m (Temperaturbereich von -40 °C bis +105 °C). Damit ist das System sehr variabel einsetzbar, sowohl in der R&D als auch in der Qualitätskontrolle in den Zulieferketten der Automotive- und Consumer Electronics-Industrie.
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| | LumiCam 4000B: 2D-Messung mit höchster Farbgenauigkeit für Anwendungen im Automotive-Bereich | |
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| Auf der Display Week stellt Instrument Systems auch die 2D-Farbmesskamera LumiCam 4000B mit verschiedenen motorisierten Objektivlinsen (Fokus und Iris) vor. Sie ist bestens geeignet für die Analyse von Symbolen und Bedienelementen in Fahrzeugen, wie z. B. Displays oder Lichtleisten in unterschiedlichsten Geometrien. Die 6-Filter-Messung in Kombination mit einer Farbkorrekturmatrix gewährleistet höchste ISO17025-akkreditierte Farbgenauigkeit. Neben der Messung von Leuchtdichte und Farbverteilung kann über die nutzerfreundliche Software auch Homogenität, Kontrast und Mura von Displays ermittelt werden.
Das bekannte High-end Spektralradiometer CAS 140D garantiert höchste Farbgenauigkeit bei schnellster Gesamtmesszeit. Die faserbasierte Einkoppeloptik ermöglicht unterschiedlichste Messanwendungen mit nur einem Spektralradiometer.
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| | | \\ Vortrag auf der SID Display Week 2024 |
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| | Impact of calibration sources on accuracy of chromaticity measurements of LED based displays | |
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| Wenn schmalbandige Emissionsquellen wie microLEDs zur Erstellung von Vollfarbanzeigen verwendet werden, können bei Farbmessgeräten, die gegen Standardlichtquellen kalibriert sind, große Messfehler auftreten. Experimente bestätigen, dass unterschiedliche Kalibrierungen eines bildgebenden Lichtmessgerätes je nach Ähnlichkeit der Kalibrierungsquelle mit der Spektralverteilung des Prüflings unterschiedliche Ebenen der Farbgenauigkeit bieten.
Präsentiert von Dr. Tobias Steinel
Donnerstag, 16. Mai um 09:40 Ortszeit in Session 58.3
Display Week 2024, San José, CA/ USA
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| | \\ Neues Whitepaper (EN) – Jetzt Download starten!
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| | One-Shot-Einzelemitter-aufgelöste Polarisationsmessungen undLIV+λ-Charakterisierung eines VCSEL-Arrays unter temperierten Bedingungen | |
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| Basierend auf einem unserer Vorträge auf der Photonics West 2024 bieten wir unseren geschätzten Lesern ein neues Whitepaper (EN) an:
Das Whitepaper befasst sich mit den Herausforderungen, die entstehen, wenn LIV+λ-Messungen auf einzelne Emitter eines VCSEL-Arrays ausgedehnt werden und dabei Polarisationsmessungen einbezogen werden. Unser Messaufbau umfasst eine kamerabasierte Strahlungsleistungs- und Polarisationsmessung gekoppelt mit einem Array-Spektralradiometer. Das System ermöglicht absolut kalibrierte optische Leistungsmessungen, die auf Kalibrierstandards nationaler Institute rückführbar sind. Um die Eigenschaften des VCSEL-Arrays unter verschiedenen Umgebungsbedingungen zu beurteilen, wurden die Messungen bei unterschiedlichen Temperaturen ausgeführt.
Die Flexibilität des Messaufbaus ermöglicht die Anpassung an individuell vorgegebene Parameterbereiche für jeden Einzel-Emitter, basierend auf der jeweiligen VCSEL-Anwendung. Über die Messprozesse können nicht funktionierende Emitter identifiziert werden. Dieses Design ermöglicht eine schnelle und umfassende One-Shot-Charakterisierung von VCSEL-Array-Emittern und ermöglicht die Parallelisierung von Messungen, um die Gesamtmesszeit zu verkürzen und beschädigte oder nicht den Spezifikationen entsprechende VCSELs in einem frühen Stadium des Herstellungsprozesses zu erkennen.
Jetzt über unser Download-Formular anfordern:
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