  | |  | Sehr geehrte Damen und Herren,
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| im Januar ist Instrument Systems in San Francisco prominent vertreten. Sie finden uns sowohl auf der Photonics West als auch auf der parallel laufenden SPIE.AR|VR|MR.
Wir präsentieren Ihnen Lösungen zur optischen Qualitätssicherung entlang der gesamten Produktionskette von AR/VR-Devices: Angefangen bei den einzelnen Modulen über das flache Display bis hin zum gekrümmten bereits eingebauten Headset-Display. Mit unseren Infrarot-Kameras können auch 3D-Gestenerkennungssensoren getestet werden. Auf beiden Veranstaltungen informiert Sie Instrument Systems auch in Vorträgen über spannende Anwendungsmöglichkeiten.
Photonics West 2024, Moscone Center in San Francisco (USA)
30. Januar – 1. Februar 2024
Stand #4205-12
SPIE.AR|VR|MR 2024, Moscone Center in San Francisco (USA)
30. – 31. Januar 2024
Stand #6101
Treffen Sie uns in San Francisco!
Ihr Instrument Systems Team
sales@instrumentsystems.com
Tel.: +49-89-454943-0
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| Zweidimensionale LIV-, Spektrum- und Strahlcharakterisierung einzelner Emitter in einem VCSEL-Array
| | Wir haben die bekannte Analyse von LIV-Kurve, Spektrum und Strahl eines gesamten VCSEL-Arrays (1-dimensional) auf eine 2-dimensionale Charakterisierung erweitert, so dass zeitgleich einzelne Emitter des Arrays analysiert werden konnten. Dieser Ansatz ermöglicht eine Parallelisierung der Messungen, die Gesamtmesszeit wird verkürzt und das Übersprechen zwischen einzelnen Emittern kann untersucht werden. Eine solch umfassende Charakterisierung der Einzel-Emitter ist kritisch für anspruchsvolle Anwendungen wie zum Beispiel Gesichts- und Gestenerkennung, In-cabin Sensing und LiDAR-Messungen.
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| | | \\ Photonics West, San Francisco, USA |
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| | Highlights auf der Photonics West | |
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| Instrument Systems präsentiert sein umfangreiches Testportfolio für IR-Emitter und VCSEL. Neue Produktentwicklungen im Bereich der VTC-Kameras bedienen den immens gewachsenen Markt der VCSEL-Produktion für den kurzwelligen Infrarot-Bereich von 780 bis 1700 nm. Die Nahfeld-Kamera VTC 4000 ermöglicht die polarisationskontrollierte Charakterisierung der einzelnen Emitter eines VCSEL-Arrays im One-Shot-Verfahren. Die Fernfeld-Kamera VTC 2400 ist speziell entwickelt für die produktionstaugliche Überprüfung von laser-basierten Komponenten wie LiDAR-Systemen.
30. Januar – 1. Februar 2024
Stand 4205-12
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| Expertenvortrag auf der Photonics West 2024 (EN) | |
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| One-shot single-emitter-resolved polarization and LIV+λ characterization of a VCSEL array at tempered conditions
For VCSEL arrays with the existing solutions, it is hardly possible and timely expensive to perform LIV+λ measurements since there are few up to some hundreds of single emitters within the array. Furthermore, polarized VCSEL arrays are unique and have potential applications, which then requires not only the LIV+λ but also polarization measurement of each emitter. Therefore, in this study, not only we extended the LIV+λ measurements to each individual emitters in a VCSEL array but also their polarization is measured. In order to characterize the stability of the VCSEL array in various environmental conditions, all the measurements were done further at multiple temperatures. The design offers fast one-shot and comprehensive characterization of emitters of VCSEL arrays, allowing parallelization of the measurements to reduce overall measurement time and to determine damaged or out of spec VCSELs at early stage of the manufacturing process.
31. Januar 2024, 11:35 Uhr (GMT-7)
Session 12904-11
Dr. Amir Sharghi
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| | | \\ SPIE.AR|VR|MR, San Francisco, USA |
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| | Highlights auf der SPIE.AR|VR|MR 2024 | |
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| Auf der parallel stattfindenden Ausstellung der SPIE.AR|VR|MR stellt Instrument Systems seine Lichtmessgeräte für eine perfekte AR/VR-Welt vor:
Die neue TOP 300 AR/VR ist eine Einkoppeloptik, deren Optik das menschliche Auge nachahmt. Das Spotmeter bietet eine integrierte Sucherkamera und eine Faserverbindung zu einem Spektralradiometer der CAS-Serie. Sie ist speziell für einfache optische Tests entlang der Produktionslinie von AR/VR-Modulen konzipiert.
Die neue LumiTop 5300 AR/VR verfügt über eine höhere Auflösung (24 MP) und ein gerades Objektiv für spezielle Produktionsaufbauten. Sie ist speziell entwickelt zum 2D-Testen von AR/VR Displaymodulen vor dem Einbau in das Headset.
Die spektral verbesserte LumiTop 4000 AR/VR mit Periskop-Objektiv ermöglicht parallele Zwei-Augen-Messungen am Display im AR/VR-Headset. Sie ist speziell entwickelt für die 2D-Prüfung bereits montierter AR/VR-Displays.
30. – 31. Januar 2024
Stand 6101
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| | Zwei Expertenvorträge auf der SPIE.AR|VR|MR 2024 (EN) | |
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| Safety assessment of virtual reality eye tracking modules
VR devices widely use multiple near-infrared LEDs for eye tracking. However, NIR illumination is potentially harmful to the human eye and skin. The international photo biological safety standard IEC 62471 provides guidelines for evaluating the photo biological hazards of incoherent broadband light sources.
29. Januar 2024, 15:50 Uhr (GMT-7)
Session 12913-55
Dr. Amir Sharghi
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| Light measurement and quality control at different production stages of a virtual reality headset
The production of a Virtual Reality headset is a complex process with several steps. At each step, various measurements are taken to verify quality or to characterize the component for later use. The visual system is the key component of a VR headset and consists in general of a display and an optical lens, which form the optical module.
29. Januar 2024, 10:50 Uhr (GMT-7)
Session 12913-45
Dr. Tobias Steinel
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| | \\ Themenartikel in Electro Optics 11/23 (EN)
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| | | | Speed of light | |
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| As microLED technology has matured, it has become increasingly popular for display applications. The ability to create high-resolution, high contrast displays with true blacks and vibrant colors makes these displays desirable for smartphones, televisions, and wearable devices such as smartwatches and augmented reality (AR) glasses, as they offer improved display quality in a smaller form factor.
The challenges, however, emerge when it comes to the mass transfer of microLEDs from wafers to displays at the same time as maintaining optical quality control at every step. The importance of testing cannot be overestimated. The quality of each individual diode can be pivotal in determining the overall performance of displays. Even minor defects or variations can result in color inaccuracies, reduced brightness, or display malfunctions.
Erschienen in Electro Optics 11/23:
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